0 序言
[1] 随着工业生产的发展，为了适应不断提高的加工技术要求，焊接工作者也在不断改进和完善焊接设备和工艺。电弧作为热源应用于材料的连接已有一百多年的历史。从二战到上世纪的60年代中期，包括激光、电子束在内的大部分常用焊接方法都已问世，同时亦激发了人们对其机理的探索和认识。在这一背景下，加快研究焊接电弧状态、以电弧物理理论指导焊接工艺、提高生产效率和产品质量有着重大的现实意义。这样也就发展了多种焊接电弧诊断方法。
1 不同电弧诊断方法
以往，在确定等离子体气体温度、电子温度以及电子密度的方法中，发射光谱法是最常用的诊断方法。然而，只有当局部热力学平衡（LTE, local thermodynamic equilibrium）在电弧等离子体中存在时，测量结果才有效。一般认为，当电子数密度超过1023m-3时，就可以满足LTE[1]，也就是说，那些电子密度超过1023m-3的区域就可以测得电弧的温度。然而，自由燃烧电弧中LTE的存在是有争议的。同时，传统的发射光谱法是对观测方向上辐射强度的累积，它不能直接对电弧中单个点的状态参数做出诊断。因而其直接测量电弧温度的效果也就不太理想。
直接确定等离子体中这些参数，特别是在不干扰周围条件时，一种可行方法为等离子体激光Thomson散射的谱线形状分析法[2]。Snyder和Bentley通过该方法测量了常压下自由燃烧的直流电弧，描述出随时间变化的中心线气体温度曲线 [3]；Bentley应用该方法发现常压自由燃烧氩弧中电子温度和电子密度的径向和轴向分布大范围的偏离了LTE[4]。
在自由燃烧氩弧条件下，不同学者用光谱法和其他方法测得的温度值之间存在很大的差异。举例而言，Koyabashi和Suga[5]、Hsu、Etemadi和Pfender[6]用光谱法测量发现这些电弧具有超过20000K的温度峰值。相反的是，Seeger和Tiller[7]用光谱法测量，而Gick、Quigley和Richards[8]用静电探针方法测量，在同样类型电弧条件下，他们得到电弧的最高温度约为12000K。而Murphy等人把激光散射方法应用于同样类型电弧中，可以证明电弧中靠近阴极附近温度高达20000K，并能在不依赖于LTE存在的条件下测量电弧径向位置上中性原子和离子的温度[9]，为等离子体的参数测量开辟了一条新途径。
2 Thomson散射原理
Thomson散射是发生在光子和自由电子之间的弹性散射，实际上就是量子力学中的Compton散射，只不过发生在低能区（hω<<mec2）。在低散射条件下，采用经典电动力学就能够很好的描述这一过程。其经典图像如图1所示：当一束平面电磁波照射到一个自由电子上时，电子在电磁波的作用下振动，由于振动电子的加速度不为零，因此电子会辐射出电磁波，并以偶极辐射的形式辐射出一小部分所吸收的入射能量，这种辐射过程就是Thomson散射。当一束平面电磁波入射到等离子体中的一群电子上时，这时的散射电磁波为各运动自由电子散射波的相干叠加。因此散射光的光谱与等离子体中电子的运动状态有很大的关系。正是基于这个原因，Thomson散射成为诊断等离子体的状态参数以及等离子体中的集体运动的有力手段。
Thomson散射方法具有能测量局部温度的优点，而它的准确性不依赖于LTE的存在。目前，国外已经成功的应用Thomson散射来测量微观粒子物理参数，通过激光光束的传播，辅以一定的光学仪器，采集反映微观粒子典型物理参数的光谱或者其它信号，并通过建模拟合计算出所需物理参数。
3 Thomson散射的研究进展
3.1 Thomson散射在温度测量上的应用
在确定等离子体气体和电子温度以及电子密度的方法中，近来经常应用的是激光Thomson散射方法。从激光散射光的光谱分布中获得所求的温度值，实现测量等离子体中重粒子的动力学温度、电子温度以及电子密度诊断。现在，这种技术已经扩展到多种激光器，包括气体激光器、固体激光器、半导体激光器等。当电子密度超过1022m-3时，散射光谱线就由中心部位窄的离子分布和周边区域宽而对称的电子分布组成。分析这些谱线，就可得到重粒子温度、电子温度和电子密度。
通过Thomson散射激光器的外差检波[10]，获得离子成分谱线，已成功的用来确定低压、大电流的转移弧温度。用调谐窄带宽染料激光器作为激光源、用单色仪进行光谱分析，可以获得转移弧中高分辨率的谱线气体温度[11]。Snyder等人发现随着焊炬工作电流的增大，气体温度不断上升至某一稳定值后保持不变[12]。
文献[4,13,14] 分别报导常压下热等离子体电子和离子的Thomson散射测量结果，指出常压下通过激光Thomson散射的谱线分析方法测量Ar等离子体射流和转移弧的电子温度，电子温度峰值高达20000K左右；重粒子温度在等离子体射流和转移弧中分别为12000K左右、14000K左右。对比分析用光谱法测得的相应温度，由表1中可以看出，在低温时光谱方法显然过高估算了温度值。这产生于LTE的偏离，而这种偏离是由等离子体外部区域的从中心区域线性辐射发射的原子激发导致的。而当温度高于一定值时，光谱方法和激光散射方法测得的温度值保持一致[6,7]。这些结果表明在一定条件下光谱法方法是不能提供可靠的电子温度测量结果的。
Snyder、Lassahn和Reynolds[14]在100A自由燃
